ERA - 8°, 12°, 22,5° & 60°
Marque :
Harrick
Référence :
ERA-XXG
Ces accessoires sont utiles pour l'études de films sur substrats métalliques et la mesure de d'épaisseur de couches épitaxiales dans le domaine de l'UV et de l'IR. Une large gamme d'angle d'incidence est disponible selon l'application. Tous les modèles reste compatibles avec les polariseurs holographique et de type glan Taylor.
L'échantillonnage se fait en toute simplicité par dépot de l'échantillon sur la plateforme, face à analyser vrers le bas.
Informations complémentaires :
- Plateforme d'échantillonnage horizontale pour une extrème simplicité.
- Angle fixe de 12°- 22,5° - 60° en standart.
- Module à 8° sur demande.
- Alignement aisé.
- Haute énergie pour une meilleure performance.
- Masques interchangeables de 3, 6 et 13mm de diamètre.
- Système sur glissière 3"x2" en standard.
- Sur demande, mise sur plaque de base pour une meilleur stabilitée optique.
- Mesure de réflexion spéculaire de films déposé sur substrat métalliques.
- Mesure de revêtements anti-reflet.
- Mesure de couches, traitements exaltants.